評估記憶體IC預燒簡化之可行方法

The Evaluation of Burn-in Reduction Approach for Memory IC

IC工業在生產流程中，常用預燒（Burn-in）搭配電性測試來篩選有潛在性可靠度失效的不良品，特別是記憶體IC，為確保在產品保證期間能正確地儲存與讀寫資料，從有如大海般記憶體陣列（Memory array）裡有效剔除少數局部「脆弱位元」（Weak bits），預燒是可信賴的方式。對於小規模IC設計公司來說，降低製造成本，縮短生產週期時間（Cycle time），以提高產品競爭力，是全體汲汲追求的目標。據此，我們以SRAM為實例，嘗試找出可行的加速應力組合，期望在有效消除早夭件且維持一定失效率目標之下，能縮短預燒試驗時間。