實現ATE系統可擴充式LCR量測，當虛擬填充變聰明

隨著半導體測試向更高複雜性與並行度演進，多站點自動化測試設備（ATE）和SiC／GaN測試對電感、電容和電阻（LCR）測量的需求不斷提升。然而傳統的外接桌上型LCR儀錶和基於線纜的設定難以擴展，而且會降低可重複性。