微控制器內置ADC的精度評測系統

現在MCU內部基本都整合了ADC，精度也越來越高，但對ADC精度要求較高的客戶來說，想要準確評測一款MCU晶片的ADC精度，還需要搭配一個精密量測系統。本文介紹一種基於軟硬體實現的自動化量測系統，不但能實現ADC精度量測，還可以在量測完成後對ADC關鍵誤差參數進行快速運算，從而實現ADC精度的快速、準確評測。