考量缺陷可能性，將車用IC DPPM降至零

為了滿足現今車用對於零百萬缺陷率（DPPM）的要求，半導體廠商合作開發出的新方法，能夠根據發生實體缺陷的可能性進行模式價值評估，並依模式計算與故障相關的總關鍵面積（TCA）。