以失效模式與效應分析為基的製程問題分析模式--以奈米探管背光模組為例

An Analytical Model for an FMEA-Based Manufacturing Process Problem Appliedto a Carbon Nano-tube Back-Light Unit

背光模組製造為平面顯示器產業中重要的上游產業，研發人員需積極開發新的製程以提高產品的品質與效能。而奈米碳管背光模組（carbon nano-tube back light unit, CNT-BLU）為可取代現行背光模組之最具潛力的製程。然而，CNT-BLU 製程仍處於研發階段，有許多製程問題須加以克服。一般工程師在面對製程問題時僅能依照自身主觀經驗判斷問題的主要原因，缺乏一套系統性分析機制，通常在試誤過程中浪費寶貴的研發時間與成本。因此本研究乃以失效模式與效應分析理論為基本架構，提出一套結合故障樹分析、特性要因圖、模糊德菲法、模糊推論等方法的製程問題分析模式。並將此系統性分析模式導入CNT-BLU 製程問題，進行實際案例驗證。結果發現本分析模式所得到之結果與實際驗證之原因相吻合。如此顯示本研究模式之適用性，亦即本分析模式可作為CNT-BLU 製程問題分析的有效工具，此外本模式並可供相關人員訓練之參考。