單邊累計合格數管制圖監控高良率製程之方法

THE METHOD OF ONE-SIDED CUMULATIVE COUNTS OF CONFORMING CONTROL CHART FOR HIGH YIELD PROCESSES

在高良率製程工業的迅速發展之下，對於產品不良率的嚴格要求，高良率製程的不良率非常低，品質特性已不符合近似常態分配假設。因此無法使用傳統的p 管制圖與np 管制圖來監控製程不良率，若仍然使用傳統的管制圖監控製程，將會造成錯誤警訊的增加。累計計數和（Cumulative Count of Conforming，CCC） 管制圖與CCC-r 管制圖已被提出能夠有效的監控高良率製程的不良率。另外，當品質特性呈現不對稱分配、品質成本不對稱、或是單方向的製程偏移較為重視的時候，單邊管制圖的設計會比雙邊管制圖較為合適。因此，本研究將建構單邊CCC 管制圖和單邊CCC-r 管制圖，推導管制界限，並探討平均連串長度及其變異性，予以探討管制的績效。研究結果發現，單邊CCC 管制圖與單邊CCC-r 管制圖在偵測製程不良率偏移時，有良好的表現。