由專利指標看TFT-LCD中段製程技術之國家競爭力與研發特性

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篇名	由專利指標看TFT-LCD中段製程技術之國家競爭力與研發特性
並列篇名	On the Competitiveness and Characteristics of Cell Process of TFT-LCD Technologies from Patent Indices
作者	陳達仁、李思宏
起訖頁	49-69
關鍵詞	專利指標
刊名	智慧財產權
期數	200507 (79期)
出版單位	經濟部智慧財產局
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