專利侵害鑑定之探討--以美國法為中心

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篇名	專利侵害鑑定之探討--以美國法為中心
並列篇名	Patent Infringement Evaluation in Accordance with Related U.S. Laws
作者	陳龍昇 (Lung-Sheng Chen)、劉筆琴
起訖頁	17-31
關鍵詞	專利侵害鑑定
刊名	萬國法律
期數	200410 (137期)
出版單位	萬國法律雜誌社
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