AI時代下的矽光子檢測與分析

當半導體先進製程持續往亞奈米節點逼近、摩爾定律正面臨嚴峻的物理極限挑戰時，傳統電子晶片所依賴的銅導線傳輸也遭遇到了高頻損耗、寄生效應以及嚴重發熱等無法克服的物理壁壘。