晶圓檢測：高解析度全域快門相機提升晶圓缺陷檢測效率

在半導體製造行業中，晶圓的缺陷檢測是確保產品品質的關鍵環節。晶圓缺陷檢測的精確性直接影響到產品的質量和生產效率。
本文將詳細介紹DFK38UX304相機在該應用案例中的表現，並探討其如何提升檢測效率和準確性。