中文摘要 |
積層陶瓷電容器(multi-layers ceramic capacitor, MLCC)具有良好絕緣性、熱穩定性與高介電係數等優點。目前NPOMLCC使用的內電極通常採用銀或銀/鈀合金電極,只有部分轉至材料成本較低廉的鎳電極。研究指出在自然環境長時間的使用下,積層陶瓷電容器的銀或銀/鈀合金電極會有電極發生遷移而造成電容器絕緣電阻(insulation resistance, IR)的降低而損壞。本研究以ZMT'積層陶瓷電容在不同燒結方式下(如傳統燒結、微波燒結),探討銀內電極的微結構變化與銀離子擴散至介電層濃度高低的影響。在元素分析方面,為了確保EDS分析具有可信度,所以將ZMT' MLCC在介電層中選6個位置做EDS分析,每一組試驗均以二個樣品做EDS的分析,而每一個樣品各分析六點,所以共分析12個點。由EDS實驗結果得知,傳統燒結的ZMT' MLCC直接燒結至900℃,其銀離子擴散至介電層的濃度非常高。而使用微波燒結的ZMT' MLCC能有效的抑制銀擴散。本研究亦量測不同燒結條件下MLCC試片的絕緣電阻變化,而量測條件是將試片經過高溫高溼長時間(85℃/R.H.95%/336hr)處理下之絕緣電阻的變化。實驗發現絕緣電阻值會隨著存放時間的增加而下降,不過當使用微波燒結方式時,試片絕緣電阻值劣化程度較少。 |