| 中文摘要 |
"光學顯微鏡因光學繞射極限從17世紀發明直至1980年間，終於有了嶄新的突破—由微米（micrometer,μm）跨入奈米（nanometer, nm）的尺度，讓我們能徜徉在璀璨的奈米世界，細細品嘗奈米光學饗宴。掃描式近場光學顯微鏡（scanning near-field optical microscopy, SNOM）即是其中一種可達到奈米級光學解析度的技術。本文將闡述光學顯微鏡發展困境與SNOM是如何達到奈米光學解析，然後進一步聚焦介紹散射型近場光學顯微鏡（scattering-SNOM, s-SNOM）的基本工作原理與應用。若有興趣了解該儀器的詳細原理、架設細節及其在電漿子（plasmon）現象的應用等，可延伸閱讀我們發表在科儀新知的深入介紹。" |
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