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篇名
是德:毫米波測試挑戰包括大頻寬、高頻率、精確度與雜訊
作者 王岫晨
中文摘要
是德科技(Keysight)行銷處資深專案經理郭丁豪指出,目前毫米波量測挑戰包括了更大頻寬、更高頻率,且需要更高的精確度,雜訊也要更低。目前許多市面上現有的儀器無法滿足對於高頻雜訊的測試需求。另外,客戶也對於上市時程吹毛求疵,他們需要更快達成校正、更準確量測、更快速上市的測試工具。
起訖頁 14-14
刊名 CTIMES:零組件雜誌  
期數 202106 (355期)
出版單位 CTIMES(遠播資訊股份有限公司)
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