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CTIMES:零組件雜誌
202107 (356期)
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篇名
220GHz一次到位:高頻晶圓測試難如上青天,新一代VNA為解決問題而生
作者
王岫晨
中文摘要
近年來,晶圓測試所需要用到的頻率越來越高。傳統VNA存在的瓶頸,漸漸難以滿足高頻晶圓測試的需求。測試頻率達220GHz的新一代VNA,將可望順利解決問題。對於晶圓量測來說,高頻測試一般都是達到110GHz的頻率。我們可以看到以往用於晶圓測試的設備,主要的模組限制都是在這個頻率上。
起訖頁
58-60
刊名
CTIMES:零組件雜誌
期數
202107 (356期)
出版單位
CTIMES(遠播資訊股份有限公司)
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