車用電子半導體元件失效率預估技術研討會紀實

繼上次6月28日台中第一場車電可靠度技術研討會我們討論到了ISO26262基本規範與可靠度觀念之後（刊載於9月份品質月刊），本次在新竹舉辦的是此系列三場之二的研討會，開始進入半導體元件的失效率預估技術。正如我們一直說的，廣義的可靠度是算出來的，不是做實驗測量出來的，故如何選擇正確的模型是至關重要的，而不要只會套公式而不知道其背後的物理意義，反過來說又要透過公式的無因次化從物理提升至數學決策的層次。