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篇名
邑流微測Flow AOI技術一眼看穿10奈米粒子的分布
作者 Sharon (Sharon)
中文摘要
自動光學檢測(AOI)是機器視覺的技術之一,可代替人工目檢,以避免人為失誤,應用於在半導體前後端的製程,但AOI大多僅限於硬體層面,針對流體自動光學檢測(Flow AOI)推出服務的公司較少見。邑流微測股份有限公司(FlowVIEW Tek)為提供流體自動光學檢測服務的新創公司,於2017年9月從工研院獨立。
起訖頁 103-103
刊名 CTIMES:零組件雜誌  
期數 201808 (322期)
出版單位 CTIMES(遠播資訊股份有限公司)
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