探測奈米元件中奈米晶粒的躍動現象

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篇名	探測奈米元件中奈米晶粒的躍動現象
作者	葉勝玄、林志忠 (Lin, Jyh-Jong)
中文摘要	所有固體中，都存在著或多或少的缺陷。有些缺陷來自於晶格空穴，這些空穴與鄰近原子之間可能形成「二能級系統（two-level systems, TLSs）」，使得一顆∕一團原子在空間緊鄰、能量又相近的二個位置∕晶格組態之間來回躍動，構成一種「動態結構缺陷（dynamical structural defects）」，簡稱「動態缺陷（dynamic defects）」，如圖1 （A）所示。"
起訖頁	15-17
刊名	物理雙月刊
期數	201710 (39:5期)
出版單位	台灣物理學會
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