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篇名
LED 顯示模組之陣列式光學檢測模組研製及均勻度補償應用
並列篇名
Implementation of Array-Based Optical Inspection Device and Uniformity Compensation for LED Display Modules
作者 蔡明忠王凱生李旻鴻張書槐
中文摘要
發光二極體 (Light Emitting Diode, LED) 已廣泛應用在室外顯示看板、TFT-LCD 背光源及各種照明等。然其單一模組之品質如發光均勻性等,造成大型化LED 面板組立後之品質問題仍有待改善。為了提升LED顯示模組的生產品質,本研究設計研製一16 × 16陣列型數位光電檢測模組,並建構一套快速亮度檢測及自動補償裝置。可自動檢測彩色LED 面板的亮度分佈,並執行均勻度補償運算。再運用LED 之硬體式亮度補償電路,可有效提昇LED顯示模組亮度均勻性。本研究以2R1G1B LED顯示模組 (16 × 16 LEDs) 之實驗結果顯示,經自動補償後均勻度可達98%以上,效果相當明顯,且任一灰階之檢測時間只要1 秒左右,驗證本系統確實能有效的提高LED 模組生產品質,具有線上實用價值。
英文摘要
The wide applications of Light Emitting Diodes (LED) includemessage displays, TFT-LCD backlight, and lighting sources. However, theintegration quality for large LEDs panel, made of LED array modules, isstill under development. To improve the quality of a LED array module,this study develops a speedy array-based luminance inspection device with16 × 16 digital optical sensors which were calibrated to measure theluminance distribution of an LED module for different grey levels. AnAutomatic Optical Inspection system for LED modules is set up toautomatically analyze and compute the luminance uniformity. An LED module driver with hardware-based Compensated Look Up Table (CLUT)is also built to improve the non-uniformity luminance of a LED module.Some 2R1G1B LED modules (16 × 16 LEDs) from local industry havebeen verified in this study. From the experimental results, an improvedluminance uniformity of over 98% was achieved. The inspection time forany grey level of a 16 × 16 LED module can be reduced to about 1 second.Therefore, this Automatic Optical Inspection implementation is feasible forindustrial applications.
起訖頁 205-212
關鍵詞 發光二極體顯示模組亮度均勻性自動光學檢測補償查詢表(CLUT)light emitting diodes (LEDs) display moduleluminanceuniformityautomatic optical inspection (AOI)compensatedlook up table (CLUT)
刊名 技術學刊  
期數 200909 (24:3期)
出版單位 國立臺灣科技大學
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