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電子月總匯No.299
中文摘要
ToF功能再進階ST力推第二代雷射測距感測器 解決功率設計初期困擾Vicor以PSD因應 功能性與時俱進R&S提供多元測試新選擇 Micron:加速發展3D NAND將資料儲存帶入新紀元 英特爾以融合實境技術讓實體與虛擬真實共舞 射頻測試複雜化 安立知推全新訊令測試儀 製程邁入10nm以下 科磊推三款光罩檢測系統 滿足物聯網需求 新唐力推NuMaker開發平台 太克推出新一代示波器與參數分析儀 不僅功率元件 驅動IC將朝向高頻化發展
起訖頁 98-99
刊名 CTIMES:零組件雜誌  
期數 201609 (299期)
出版單位 CTIMES(遠播資訊股份有限公司)
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