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CTIMES:零組件雜誌
201510 (288期)
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篇名
智慧化方案,輕鬆搞定SoC測試
作者
王岫晨
中文摘要
SoC技術的發展雖然有效降低了電子產品的成本,但卻也增加了SoC晶片的設計、製造和測試難度。面對越來越複雜的SoC晶片,測試工程師除了必須達到全面完備測試的要求之外,又得不斷嘗試降低測試成本的方法,因此降低測試成本也成為目前產業最為關注的焦點之一。
起訖頁
92-95
刊名
CTIMES:零組件雜誌
期數
201510 (288期)
出版單位
CTIMES(遠播資訊股份有限公司)
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