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篇名
NI將CompactDAQ納入量測體系
作者 姚嘉洋
中文摘要
隨著物聯網時代的到來,市場對智慧裝置的需求不斷攀升,多功能、複雜化及產品生命週期逐年縮短儼然為大勢所趨;面對此趨勢,工程師們須採用更智能化的量測與測試方式,才能進一步提升研發能量並縮短產品上市時程。NI(國家儀器)技術行銷工程師葉俊寬指出,根據市場研究機構Gartner預估,2016年全球將有高達64億個物聯網裝置,其中4億個為消費性裝置,面對如此強勁的需求,NI提供工程師開放式且彈性佳的PXI自動化測試平台,協助光電產業、半導體產業、車用業者、製造業及學術界的合作夥伴們,降低測試智慧裝置的複雜度、縮短測試與量測的時程,並加速驗證及產線的量產。
起訖頁 100-100
刊名 智動化雜誌  
期數 201608 (17期)
出版單位 CTIMES(遠播資訊股份有限公司)
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