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篇名
RF測試關鍵趨勢:模組化儀器正方興未艾
作者 王岫晨
中文摘要
隨著行動通訊的技術越來越發達,產品在設計上也不斷地進行濃縮。以往不同功能的元件,都正在不斷地濃縮成一個單一的晶片。例如半導體晶圓與晶片,體積越來越小,卻擁有更多不同的功能區塊,製程技術也日新月異,這使得系統或裝置可以持續挑戰更小與更輕量化的極限。而功能濃縮了,量測方式當然也得跟著改變,單一晶片整合了更多功能,代表著儀器必須想辦法透過單一的測項,來測得更多的功能與項目。特別是行動裝置都越來越輕薄短小,元件彼此間也更為密集,這為測試的進行添加了更多的不便與變數。
起訖頁 94-97
刊名 CTIMES:零組件雜誌  
期數 201412 (278期)
出版單位 CTIMES(遠播資訊股份有限公司)
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