我國設計專利侵害判斷流程與分析方法之再檢討   全文下載

我國智慧財產法院對於設計專利的侵害鑑定是依據「專利侵害鑑定要點（草案）」之新式樣專利鑑定流程辦理，該要點是2004年10月5日經濟部智慧財產局函送司法機關鑑定參考之用。新式樣專利侵害之鑑定流程分為兩階段：(一)解釋申請專利之新式樣範圍，(二)比對解釋後申請專利之新式樣範圍與待鑑定物品（如表一所示）。第三章鑑定方法說明：「解釋申請專利之新式樣範圍」之目的在確認申請專利之新式樣範圍及其新穎特徵，以合理界定專利權範圍。新穎特徵是指申請專利之新式樣對照申請前之先前技藝，客觀上使其具有新穎性、創作性等專利要件之創新內容。