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篇名
利益測試法於分離式專利侵權之發展──由Akamai案後之實證研究
作者
楊惠彬
中文摘要
專利制度之目的在於鼓勵技術發明、促進產業發展,凡揭露發明內容予以公眾者,經審查並核准後可於一定期間內享有發明技術之專利權。當專利權遭受侵權行為人之侵害時,專利權人得依法請求侵害排除與損害賠償,不論該侵權行為人是單一個體或以多方形式。
起訖頁
47-77
刊名
專利師
出版單位
中華民國專利師公會
期數
202201 (48期)
DOI
10.53106/221845622022010048003
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