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CTIMES:零組件雜誌
202510 (407期)
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篇名
嵌入式軟體與測試的變革:從MCU演進到品質驗證
中文摘要
隨著嵌入式軟體日益複雜,測試技術的重要性不容忽視。透過靜態分析可在編譯前發現程式缺陷,動態分析則能捕捉執行時問題,兩者結合才能夠全面守護品質,再加上整合測試功能的IDE,能夠協助開發者在設計初期就提升可靠性,降低後期修復成本。
起訖頁
75-78
刊名
CTIMES:零組件雜誌
期數
202510 (407期)
出版單位
CTIMES(遠播資訊股份有限公司)
該期刊-上一篇
20GHz直接採樣:一體式奈奎斯特方案
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