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篇名
揭密TGV製程中的隱形殺手:EBSD如何破解應力難題
中文摘要
在材料分析領域裡,電子顯微鏡不只會「拍照」,還能「看懂」每一顆晶體怎麼排列和轉向,此技術叫做EBSD(電子背向散射繞射)。而在TGV製程中,晶粒排列與應力分布的微小差異,往往決定了產品的可靠度。這些關鍵資訊正是EBSD技術的專長。
起訖頁 67-77
刊名 CTIMES:零組件雜誌  
期數 202508 (405期)
出版單位 CTIMES(遠播資訊股份有限公司)
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