自動測試設備應用中PHOTOMOS開關替代方案

本文說明CMOS開關可以取代自動測試設備（ATE）廠商使用的PhotoMOS開關。CMOS開關的電容乘電阻（CxR）性能的導通速度、可靠性和可擴展性的表現卓越，契合於先進記憶體測試時代中ATE廠商不斷升級的需求。