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篇名
3D異質整合設計與驗證挑戰
作者 安矽思科技 (Ansys)
中文摘要
下一代半導體產品越來越依賴垂直整合技術來推動系統密度、速度和產出改善。由於多個物理學之間的耦合效應,對於強大的晶片-封裝-系統設計而言,聯合模擬和聯合分析至關重要。本文簡要介紹異質整合設計師將面臨的主要設計問題,並提供新穎的思考方向。
起訖頁 75-79
刊名 CTIMES:零組件雜誌  
期數 202303 (376期)
出版單位 CTIMES(遠播資訊股份有限公司)
該期刊-上一篇 利用高壓電池管理架構降低部件成本
 

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