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篇名
重新評估測試方案模組化儀器以靈活彈性應對市場測試挑戰
作者 王岫晨
中文摘要
測試的成本往往也成為廠商對於產品研發過程的考量之一。市場的快速變革,也使得半導體廠商不確定未來需要採用何種技術。面對這種種問題,半導體廠商需要重新考慮評估他們的測試方案。
起訖頁 60-63
刊名 CTIMES:零組件雜誌  
期數 202211 (372期)
出版單位 CTIMES(遠播資訊股份有限公司)
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