論晶片測試的品質

如今無論是半導體行業的採購、經理人還是採 購代理，在提及半導體元件的電氣/參數測試 時，都會重點強調一些主要的技術和商業問題。半導 體元件測試的發展歷史與半導體元件本身的歷史同樣 久遠，然而除了經驗豐富的工程師之外，其他人對半 導體元件測試瞭解甚少。 對於半導體元件的採購和經理人而言，雖然他們認識 到測試是採購流程中的必需步驟，但往往並不瞭解具 體的測試要求以及測試的價值，因而也就無法針對特 定產品、技術或細分市場選擇適合的測試方法。 此外，測試服務的有效性非常難以對比，這可能導致 對某些元件匹配並不合適的測試級別。要滿足半導體 元件的測試要求，並採用合適的測試方法，經驗豐富 的零組件測試工程師就顯得尤為重要。 儘管半導體製造的品質水準在過去十年間已普遍提 高，但行業的整體發展越來越需要對半導體元件進行 完整、精確的測試。實際上，隨著半導體元件越來越 複雜，整合度越來越高，拓撲結構越來越簡單，為降 低殘餘缺陷率，執行全面測試的需求也越來越高。