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篇名
半導體測試邁向智慧化解決方案新時代
作者 王岫晨
中文摘要
半導體製造為一個發展迅速的產業,必須高度整合越來越多的裝置,同時又具備各種功能。半導體製造必須為資本設備進行控管,才能使用於多個設備世代交替與應用領域,並延長設備使用期限。一般來說,以傳統方式進行類比、混合訊號與RF測試時的測試範圍,通常無法滿足半導體技術的需求。半導體測試工程師需要透過更智慧化的解決方案,因應成本、擴充能力、設計與裝置挑戰。
起訖頁 72-75
刊名 CTIMES:零組件雜誌  
期數 202009 (347期)
出版單位 CTIMES(遠播資訊股份有限公司)
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