非接觸式微位移測頭研製成果

位移量測在工程領域一直有大量需求，尤其在光電科技日益發展與進步後，利用光學方式量測物件位移即大量應用於機械與光學等領域。其中以雷射源為主的量測方法不僅具有高精度、長工作距離，並可以非接觸式量測，避免接觸與刮傷精密待測物。本中心所開發之非接觸式位移測頭（non-contact displacement sensor, NCDS）即為具備上述特點之量測儀器。