解決類比輸入IEC系統保護問題

與系統類比輸入和輸出節點交互作用的外部高壓瞬變，可能破壞系統中未採用充分保護措施的積體電路(IC)。現代IC的類比輸入和輸出接腳，通常採用了高壓靜電放電(ESD)瞬變保護措施。人體模型(HBM)、機器模型(MM)和充電元件模型(CDM)，是用來測量元件承受ESD事件的能力的元件級標準。這些測試旨在確保元件能承受元件製造和PCB裝配流程中的靜電壓力，通常在受控環境中實施。