Protecting Your American Intellectual Property Rights:  How Foreign Companies Can Utilize The United States International Trade Commission and Section 337 Investigations

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篇名	Protecting Your American Intellectual Property Rights: How Foreign Companies Can Utilize The United States International Trade Commission and Section 337 Investigations
作者	Gary M. Hnath (Gary M. Hnath)、Mit Winter (Mit Winter)
起訖頁	143-159
刊名	政大智慧財產評論
期數	200610 (4:2期)
出版單位	國立政治大學智慧財產研究所
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