X光螢光法偵測儀簡介

X 光螢光法偵測儀（XRF,X-RayFluorescence）是可攜式直讀式儀器，特點為可在不同介質同時測定數種金屬。它的儀器設計為X 光管發射源（X-ray tube source）及偵測裝置。因為它的X 光管發射源的設計（low-power hot-filament cathode x-raytube），所以使用上並不需要特殊執照或運送方式。偵測裝置常見有 Si（Li）、HgI2、及矽二極體，各有其特點及使用上限制。