「技術及專利」價值評估模式之研究

本研究透過理論與實徵調查，探討進行技街交易或專利買賣時，影響價值評量的指標為何，以降低「技術交易」計價時主觀認定或資訊不對稱的風險。本研究結論，認為「技術及專利價值」分析構面可分為三部分，一、知識與技術構面：技術競爭及創新能力、技術支援能力、技街風險、技術實用性、技術功能及範園、產品管理及提昇能力、擁有專利數量、技術專屬性及分類、技術等級及定位、先前技術引用能力等因素組成。二、科技政策與法制基礎構面：產權及授權條件、稅制、交互授權狀態、輿論與訴訟、信用及保護責任等因素組成。三、商業環境與外部因素構面：商業強度與外部資源、產品定位及內部資源、產業競爭能力、市場區隔與保護能力、市場預期遠景、市場敏感度及週期性、市場的掌握能力、產品保固及責任成本、投資機會成本、市場擴散能力、邊際製造成本等因素。本研究結果所得之「技術與專利價值結構模型」，認為技術與專利價值評價時應由「知識與技術面、政策與法制函、商業環境與管理」三面向同時考量。