中文摘要 |
製程能力指標是製程參數(製程期望值、標準差)及規格之一項沒有單位的函數,它可說是衡量製程是否合乎品質水準的一種簡單易懂的語言;它經常被用來判定產品在特定公差下是否合乎品質水準(Boyles, 1991)。然而,不少人僅透過樣本算出製程能力指標值就來判定製程能力,Montgomery( 1985 )等不少學者即指出如此進行判定製程是不適當的。因此,本文係針對Cpm指標的應用,於單製程時建構一Cpm的推薦最小值的判定程序;及於多重製程時提出以Cpp的多重製程績效分析圖的圖解法來分別判定多重製程是否合乎品質能力。透過本文所提之方法確實可以簡易且正確地判定出製程之品質能力。最後,透過半導體製程的兩個實際例子來說明Cpm判定程序及Cpp圖解法之應用。 |