積體電路構裝製程中降低視覺檢測機器發生誤判之參數設定研究

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篇名	積體電路構裝製程中降低視覺檢測機器發生誤判之參數設定研究
並列篇名	Parameter Settings of Visual Inspection Machine for Reduction of Judgement Errors in IC Package Process
作者	林宏達、朱達宏
中文摘要	在積體電路（IC）構裝（Package）製程中，由於生產設備自動化程度高、生產速度快，加上基本元件尺寸規格愈來愈小，使得製程中產品的檢測均已採用電腦視覺技術進行自動化檢驗。
起訖頁	119-142
關鍵詞	參數設定研究、實驗設計、反應曲面技術、IC構裝製程、外觀不良檢測、電腦視覺系統、統計型I與型II誤差、Parameter setting、Computer visual inspection、Design of experiments、Response surface techniques、Statistical type I and type II errors、IC package process
刊名	朝陽學報
期數	199910 (4期)
出版單位	朝陽科技大學
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